ISO 13-1978 灰口铸铁管、特种铸件和耐压主管道的灰口铁部件

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【英文标准名称】:Ceramicandglassinsulatingmaterials;individualmaterials;identicalwithIEC60672-3,edition1984
【原文标准名称】:陶瓷绝缘材料和玻璃绝缘材料.材料特性参数
【标准号】:DINVDE0335T.3-1988
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:


【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part38:Softerrortestmethodforsemiconductordeviceswithmemory
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.带存储器的半导体器件用软错误试验法
【标准号】:BSEN60749-38-2008
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2008-06-30
【实施或试行日期】:2008-06-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:加速的;α辐射;气候试验;部件;损伤;缺陷;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;集成电路;干扰;测量;机械测试;电力电子学;半导体器件;半导体;测试;测试条件
【英文主题词】:Accelerated;Alpharadiation;Climatictests;Components;Damage;Defects;Definition;Definitions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Integratedcircuits;Interferences;Measurement;Mechanicaltesting;Powerelectronics;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing;Testingconditions
【摘要】:ThispartofIEC60749establishesaprocedureformeasuringthesofterrorsusceptibilityofsemiconductordeviceswithmemorywhensubjectedtoenergeticparticlessuchasalpharadiation.Twotestsaredescribed;anacceleratedtestusinganalpharadiationsourceandan(unaccelerated)real-timesystemtestwhereanyerrorsaregeneratedunderconditionsofnaturallyoccurringradiationwhichcanbealphaorotherradiationsuchasneutron.Tocompletelycharacterizethesofterrorcapabilityofanintegratedcircuitwithmemory,thedevicemustbetestedforbroadhighenergyspectrumandthermalneutronsusingadditionaltestmethods.Thistestmethodmaybeappliedtoanytypeofintegratedcircuitwithmemorydevice.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:16P.;A4
【正文语种】:英语